DIFFRACTOMÉTRIE DE RAYONS X

Les rayons X interagissent avec la matière cristalline, produisant, entre autres effets, la diffraction de ceux-ci dans des directions spécifiques, dont l’intensité et la géométrie sont caractéristiques de chaque composé : l’analyse du spectre de diffraction constitue, en conséquence, un système d’analyse qui permet d’identifier différentes substances, à la condition que celles-ci soient suffisamment cristallines (les atomes étant ordonnés périodiquement dans l’espace), ce qui veut dire, en des termes pratiques, la majorité des composés inorganiques, à l’exception des verres (en savoir plus…)

L’identification de la majorité des composés et mélanges inorganiques peut être basée sur cette technique instrumentale. La quantité d’échantillon nécessaire pour l’analyse par diffraction de rayons X est petite, de l’ordre de quelques dizaines de milligrammes, bien qu’il existe la possibilité de travailler avec des quantités bien plus petites si on utilise cette technique analytique avec la radiation synchrotron. Exemples : composition d’une pierre, identification des sels, caractérisation des couches d’enduits, identification des mortiers et bétons (liant et agrégats), etc.

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