|
MICROSCÒPIA
ELECTRÒNICA DE RASTREIG
El
microscopi electrònic de rastreig, d'escombratge
o de scanning (conegut per l'acrònim SEM, de Scanning
Electron Microscopy), és un microscopi que per formar la imatge
utilitza un feix accelerat d'electrons en comptes de llum visible. La
microscòpia òptica té una forta limitació
d'augments i ressolució a causa de la logitud d'ona de la llum
i de les caracteríistiques del ull humà. L'ona associada
a un feix d'electrons té una longitud molt petita i per tant, la
imatge formada per aquesta pot tenir una molt gran ressolució:
aquesta és la base de la microscòpia electrònica,
que en lloc de llum usa un feix d'electrons i en lloc de lents de vidre,
lents consistents en camps magnètics que desvien els electrons.
Les
imatges obtingudes amb aquesta tècnica tenen una gran profunditat
de camp, la qual permet que es pugui enfocar simultàniament una
gran part de la mostra encara que no estigui en el mateix pla, i produeix
imatges d'alta resolució, el que significa que característiques
molt petites poden ser examinades amb una alt grau de ressolució.
Addicionalment, l'impacte del feix d'electrons sobre la mostra dóna
lloc a diversos fenòmens físics, el resultats dels quals
poden ser recollits i analitzats, de forma que es possible obtenir informació
química de la mostra o de part d'aquesta, distribució dels
elements que la formen, l'esmissió de catodolluminiscència,
de vegades, aporta informació rellevant...En definitiva, els detectors
d’electrons secundaris, retrodispersats i de raigs X acoblats al
SEM permeten veure la topografia i morfologia del material, alhora que
obtenir-na la composició química de les diferents zones
de la mostra.
La
preparació de les mostres és relativament fàcil ja
que en la majoria dels casos només es necessita que siguin conductores.
Per això la mostra és recobreix amb una capa de metall o
carboni molt prima, i és rastrejada o escombrada amb electrons
que s'envien des d'un canó. Un detector mesura la quantitat d'electrons
que emergeixen de la zona de la mostra i és capaç de presentar
el resultat en forma d'imatges en tres dimensions, projectades en una
pantalla. La seva resolució és entre 3 i 20 nanòmetres,
en funció del microscopi i de les condicions d'observació.
|
